Retsch Technology bietet eine Reihe von optischen Analysengeräten (Partikelanalyse) für die physikalische Charakterisierung von Partikeln nach Größe und Form an. Dabei überstreicht die Gesamtpalette einen Größenbereich von 3 nm bis 30 mm. Ab 100 µm aufwärts kann die Partikelform analysiert werden.

Nähere Informationen über Partikelanalyse erhalten Sie auf unserer Homepage: retsch-technology.de - Partikelanalyse