Messgeräte für Partikelanalyse - Retsch Technology

Retsch Technology bietet Ihnen innovative optische Systeme zur Partikelcharakterisierung auf Basis verschiedener Messtechniken: 

  • Messbereich von 0,3 nm bis 30 mm
  • Analyse von Partikelgröße und Partikelform in Suspensionen, Emulsionen, kolloidalen Systemen, Pulvern, Granulaten und Schüttgütern