Für die physikalische Charakterisierung von Partikeln bietet Retsch Technology eine breite Auswahl an optischen Analysegeräten, die im Bereich von 1 nm bis 30 mm arbeiten. Mit einem Klick auf das Gerät Ihrer Wahl erhalten Sie detaillierte Informationen.
Siebanalyse
Trockenmessung
Nassmessung
Mit den Siebmaschinen der Schwesterfirma RETSCH können Partikelgrößenanalysen als Trocken- und Nasssiebungen in einem Korngrößenbereich von 10 µm bis 125 mm durchgeführt werden.
Dynamische Bildanalyse
Laserlichtstreuung
