Milling and Sieving
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Produktauswahl

Für die physikalische Charakterisierung von Partikeln bietet Retsch Technology eine breite Auswahl an optischen Analysegeräten, die im Bereich von 1 nm bis 30 mm arbeiten. Mit einem Klick auf das Gerät Ihrer Wahl erhalten Sie detaillierte Informationen.

In der folgenden Matrix ist der Zusammenhang zwischen Gerät, Art des Probenmaterials und dem Messprinzip dargestellt. Mit einem Mausklick auf das gewünschte Feld gelangen Sie auf die Seiten des entsprechenden Gerätes.

Mit den Siebmaschinen der Schwesterfirma RETSCH können Partikelgrößenanalysen als Trocken- und Nasssiebungen in einem Korngrößenbereich von 20 µm bis 63 mm durchgeführt werden.