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Für die physikalische Charakterisierung von Partikeln bietet Retsch Technology eine breite Auswahl an optischen Analysegeräten, die im Bereich von 1 nm bis 30 mm arbeiten. Mit einem Klick auf das Gerät Ihrer Wahl erhalten Sie detaillierte Informationen.
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In der folgenden Matrix ist der Zusammenhang zwischen Gerät, Art des Probenmaterials und dem Messprinzip dargestellt. Mit einem Mausklick auf das gewünschte Feld gelangen Sie auf die Seiten des entsprechenden Gerätes.
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Mit den Siebmaschinen der Schwesterfirma RETSCH können Partikelgrößenanalysen als Trocken- und Nasssiebungen in einem Korngrößenbereich von 20 µm bis 63 mm durchgeführt werden.
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