Dynamische Bildanalyse (DIA)

Dynamische Bildanalyse (DIA) ist eine moderne, leistungsfähige Methode zur Charakterisierung von Partikelgröße und Partikelform von Pulvern, Granulaten und Suspensionen.

Die Analysatoren CAMSIZER P4 und CAMSIZER X2 von Retsch Technology arbeiten nach dem Prinzip der Dynamischen Bildanalyse (DIA). Durch die Besonderheit des patentierten Zwei-Kamera-Prinzips (dual camera technology) können die beiden Analysatoren jeweils einen sehr breiten dynamischen Messbereich von 20 µm bis 30 mm bzw. 0,8 µm bis 8 mm abdecken. Die Dual Camera Technology basiert auf der gleichzeitigen Arbeit zweier Kameras in den Messsystemen, um in einem breiten Messbereich sowohl feine als auch grobe Partikel mit hoher Auflösung und Nachweiswahrscheinlichkeit zu erfassen.

Die Dynamische Bildanalyse wird für eine Vielzahl von Applikationen bei der Qualitäts- und Prozesskontrolle von Pulvern und Granulaten in zahlreichen Industriezweigen eingesetzt. Oft ersetzt die DIA durch ihre überlegene Leistungsfähigkeit dabei konventionelle Methoden wie die Siebanalyse oder die Laserbeugung ab.

Gegenüber den konventionellen Messverfahren zur Partikelanalyse bieten bildgebende Verfahren wie die Dynamische Bildanalyse eine Reihe von Vorteilen: Eine Vielzahl verschiedener Größen- und Formparameter werden mit hoher Detailgenauigkeit von jedem einzelnen Partikelabbild gewonnen. Das Messprinzip zählt zur Gruppe der Einzelpartikelmessverfahren. Die Auflösung der Messergebnisse ist auch dadurch den anderen Verfahren weit überlegen.

  • CAMSIZER® P4

    CAMSIZER<sup>®</sup> P4
    • Messprinzip: Dynamische Bildanalyse (ISO 13322-2)
    • Messbereich: 20 µm bis 30 mm
    • Art der Analyse: Trockenmessung von Pulvern, Granulaten und Schüttgut
  • CAMSIZER® X2

    CAMSIZER<sup>®</sup> X2
    • Messprinzip: Dynamische Bildanalyse (ISO 13322-2)
    • Messbereich: Standard
      0.8 µm bis 8 mm
      10 µm bis 8 mm (Freifalldispersion)
      0.8 µm bis 5 mm (Druckluftdispersion)
      0.8 µm to 1 mm (Nassdispersion)
      Erweiterte Messbereiche
      für Details bitte hier klicken
    • Art der Analyse: Trocken- und Nassmessung

Das Messprinzip Dynamische Bildanalyse (DIA)

Analysatoren, die nach dem Prinzip der Dynamischen Bildanalyse arbeiten, bestehen aus einem optischen System mit Kameras, Objektiven und Lichtquellen, sowie einer Probenzufuhr. Die Partikel werden zwischen Lichtquelle und Kamera hindurch bewegt und in der Bewegung von den Kameras als Schattenprojektionen erfasst. Wichtig ist es dabei, möglichst viele Partikel in kurzer Zeit in guter Qualität abzubilden, um eine sehr gute Messstatistik als Basis für präzise und reproduzierbare Messungen zu erzeugen.

Voraussetzung für eine gute Messstatistik ist ein genau abgestimmtes optisches System mit starken Lichtquellen, kurzen Belichtungszeiten und eine leistungsfähige PC-Hardware. In Zusammenarbeit mit der Hardware muss eine leistungsfähige Auswertesoftware in der Lage sein, mehrere hundert Bilder pro Sekunde in Echtzeit auszuwerten. An den Partikelabbildungen können direkt verschiedene Größen- und Formparameter gemessen und daraus die Verteilungen von Partikelgröße und Partikelform erstellt werden.

Bei der Dynamischen Bildanalyse werden im Unterschied zur Statischen Bildanalyse (Mikroskopie) bei durchschnittlichen Messzeiten von 2 bis 5 Minuten mehrere Millionen Einzelpartikel analysiert und daraus statistisch sichere Partikelgrößen- und Partikelformverteilungen berechnet.


Vergleich statische und dynamische Bildanalyse

  • statische Bildanalyse (ISO 13322-1)Statische Bildanalyse
    (ISO 13322-1)
    • Bilder werden von ruhenden Partikeln aufgenommen
    • Hohe Auflösung > 0,5 μm
    • Analyse von einigen 100 Partikeln (geringe Statistik)
    • Begrenzter Messbereich < 1 mm
    • Zeitaufwändig
    • Partikel werden nur in einer Lage detektiert (2 Dimensionen)
  • dynamische Bildanalyse (ISO 13322-2)Dynamische Bildanalyse
    (ISO 13322-2)
    • Partikel werden in Bewegung relativ zu der Kamera aufgenommen
    • Auflösung > 1μm
    • Analyse von einigen Millionen Partikeln (exzellente Statistik)
    • Großer Messbereich bis 30 mm
    • Schnell
    • Partikel werden in allen Orientierungen detektiert (3 Dimensionen)